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HD-DRE-V Thermal Conductivity Tester Hot Disk Method
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HD-DRE-V Thermal Conductivity Tester Hot Disk Method
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HD-DRE-V Thermal Conductivity Tester Hot Disk Method

Nombre De La Marca: HAIDA
Número De Modelo: HD-60088
Cantidad Mínima De Pedido: 1 Set
Precio: Negociable
Detalles De Embalaje: Each set protected with resin fiber and PP film, then put into Strong wooden case with operation man
Condiciones De Pago: L/C,D/A,D/P,T/T,Western Union,,In cash, escrow
Información Detallada
Descripción del Producto
Información Detallada
Place of Origin:
Guangdong, China (Mainland)
Certificación:
ISO,CE,
Test range:
0.005-300W/(m*K)
Test mode A:
Room temperature
Test mode B:
RT~120℃ (Required other temp. Control device)
Probe diameter A:
7.5 mm
Probe diameter B:
15 mm
Resolution:
±3%
Repeatability error:
≤3%
Test time:
5~160 sec
Power:
AC 220V
External dimension(W*H*D):
50*41*20 cm
Supply Ability:
300 Sets per Month Haida
Resaltar:

Hot Disk Method Thermal Conductivity Tester

,

HD-DRE-V Thermal Conductivity Tester

Descripción del Producto
HD-DRE-V Thermal Conductivity Tester (Hot Disk Method) Description: The thermal conductivity tester adopts the transient plane heat source method, based on TPS transient plane heat source technology, and uses a Hot Disk probe. It can be used to test the thermal conductivity, thermal conductivity (thermal diffusion coefficient), specific heat capacity, thermal storage coefficient and thermal resistance of metals, alloys, graphite, thermal grease, silicone, silicone rubber,
Etiquetas: 

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